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曲面构件R角区域的缺陷无损检测方法技术

2017-09-09 17:20:48 来源:网络 编辑:K027_小凯乐

很多模锻工件和冲拔工件都不是很规则的简单形状,而是由一些不同曲率的曲面和平面构成的,曲面与曲面或曲面与平面之间不具备平行关系,因而无法实施有效的无损检测。这些曲面构件中的缺陷类型一般分为裂纹、分层和夹杂等,主要以变形流线方向分布于R角区域(如图1)。曲面构件的R角区域无损检测可供考虑的技术途径主要有涡流检测、磁粉检测、射线检测和超声波检测。磁粉检测能够直观显示缺陷形状和位置等信息,但它只能够检测构件的外表面裂纹,对于工件的内表面常常也无法实施磁粉检测,构件内部缺陷更是无法检测出来;涡流检测同样也只是一种表面缺陷检测技术,对受检构件表面状况要求较高,无法检测其内部缺陷;射线检测可以实现曲面构件内部缺陷检测,但是其检测厚度范围一般只有50mm量级,穿透力往往不够,其检测分辨能力也有限,对裂纹和内部夹杂不敏感,许多缺陷的检出率并不高;而且辐射效应对人体有害,检验成本高,操作不便,所以射线检测不太适合曲面工件的无损检测。与上述无损检测方法相比,超声波检测方法具有指向性好、灵敏度高、穿透力强等优点,在曲面工件的内部缺陷检测方面具有很大的优势。但目前在曲面工件内部缺陷的超声检测方面还没有可行的检测方法和检测标准。为了解决曲面构件R角区域的缺陷无损检测问题,本专利技术根据缺陷对超声波传播的影响来检测材料内部和表面的缺陷,提出采用多个不同入射角度的超声波探头检测位于R角区域内不同部位的缺陷...
 
本发明专利技术公开了一种用于曲面构件R角区域的缺陷无损检测方法,基于超声波检测原理,通过建立具有不同超声波入射角度装置并用于检测曲面构件R角区域的缺陷,通过本方法可以准确地检测出R角区域的缺陷,取得了很好的缺陷无损检测效果。一种曲面构件R角区域的缺陷无损检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1)根据曲面构件R角区域不同位置,分别制作不同弧度和不同入射角度的双晶超声探头;步骤2)将具有不同入射角度的双晶超声波探头和具有不同夹持角度的镶嵌楔块体,组成R角区域组合探头装置;步骤3)将R角区域组合探头装置,置入曲面构件中的R角区域,并保证它与曲面构件R角区域充分接触;步骤4)将R角区域组合探头装置在曲面构件中均匀旋转或横向移动,同时观察超声波探伤仪闸门内的缺陷回波信号;步骤5)如果存在某一缺陷回波超出报警闸门,就意味着检测出了曲面构件R角区域的缺陷。
 
一种曲面构件R角区域的缺陷无损检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1)根据曲面构件R角区域不同位置,分别制作不同弧度和不同入射角度的双晶超声探头;步骤2)将具有不同入射角度的双晶超声波探头和具有不同夹持角度的镶嵌楔块体,组成R角区域组合探头装置;步骤3)将R角区域组合探头装置,置入曲面构件中的R角区域,并保证它与曲面构件R角区域充分接触;步骤4)将R角区域组合探头装置在曲面构件中均匀旋转或横向移动,同时观察超声波探伤仪闸门内的缺陷回波信号;步骤5)如果存在某一缺陷回波超出报警闸门,就意味着检测出了曲面构件R角区域的缺陷。2.根据权利要求1所述曲面构件R角区域的缺陷无损检测方法,其特征在于:不同入射角度的双晶超声波探头,按其晶片倾角不同,分别为双晶直探头A、双晶直探头B、双晶直探头C,其中:双晶直探头A包括:探头A晶片(11)、探头A延迟块(12)、探头A阻尼块(13)、探头A壳体(14)、探头A接插件(15);双晶直探头B包括:探头B晶片(21)、探头B延迟块(22)、探头B阻尼块(23)、探头B壳体(24)、探头B接插件(25);双晶直探头C包括:探头C晶片(31)、探头C延迟块(32)、探头C阻尼块(33)、探头C壳体(34)、探头C接插件(35)。3.根据权利要求2所述曲面构件R角区域的缺陷无损检测方法,其特征在于:双晶直探头A具有两个探头A晶片(11)

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